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📟 CP良率突降5个点:探针卡的隐形账单

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发表于 昨天 07:47 | 显示全部楼层 |阅读模式
✦ 📟 CP良率突降5个点:探针卡的隐形账单 ✦
测试台上的坏消息,一半来自被忽略的耗材。

▪️【为什么】某产品CP良率一周从92%跌到87%,失效随机无规律,复测又能过,典型接触异常特征。
“复测就好”不是运气,是接触电阻在作怪。
▪️【怎么办】
▸ 检查探针卡针尖磨损污染,按触点次数强制清洗或更换
▸ 盯OverDrive与针压一致性,低针压是复测型失效的元凶
▸ 失效die先做失效定位复测,区分真失效与接触失效再谈良率
▪️【划重点】良率跳水先查接触,再查程序,最后才怀疑晶圆。

💬 你们的探针卡寿命怎么定?按次数还是按针尖电阻?
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