查看: 4|回复: 0

封装良率的隐形关卡:润湿与空洞

[复制链接]
发表于 5 小时前 | 显示全部楼层 |阅读模式
✦ 封装良率的隐形关卡:润湿与空洞 ✦
X-Ray一片空洞,返工费就够买半台贴片机的电费。

▪️【为什么】封装端的焊料润湿性与塑封空洞是良率的两大隐形关卡。回流曲线峰值差5℃、氮气纯度降一档,空洞率就能从1%跳到10%。
▪️【怎么办】
▸ 1. 回流曲线按焊料熔点+25℃设定峰值,升温斜率≤4℃/s防飞溅;
▸ 2. 回流腔氧含量<1000ppm实时监控,氧气超标润湿角立刻恶化;
▸ 3. 塑封前真空脱泡, Mold料陈化超期直接废弃,别心疼那点料钱。
▪️【划重点】封装良率=热曲线+气氛+材料保质期,三个变量一个都不能松。

💬 你们封装空洞率控制在多少?最近一次返工是什么原因?👇
您需要登录后才可以回帖 登录 | 立即注册

本版积分规则

关注公众号
免责声明|Archiver|手机版|小黑屋|半导贴吧

相关侵权、举报、投诉及建议等,请发 E-mail:1152577621@qq.com

Powered by Discuz! X5.0 © 2001-2026 Discuz! Team.|渝ICP备2024033348号|渝ICP备2024033348号-1

在本版发帖
关注公众号
QQ客服返回顶部