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北大团队突破存储器物理极限!全球首个晶圆级超薄铋基铁电晶体管问世 🚀

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发表于 昨天 13:26 | 显示全部楼层 |阅读模式
北大团队突破存储器物理极限!全球首个晶圆级超薄铋基铁电晶体管问世 🚀
在人工智能浪潮席卷全球的今天,芯片性能的每一次跃升都牵动着未来科技的脉搏。北京大学化学与分子工程学院彭海琳教授团队,凭借原创性研究,成功研制出全球首个晶圆级超薄、均匀的铋基二维铁电氧化物,并基于此构建出高性能铁电晶体管,彻底突破了传统存储器的物理极限。这一里程碑式成果,不仅为“后摩尔时代”芯片发展开辟了新路径,更让中国在国际科技竞争中占据制高点! 💡
🔍 核心突破:从材料到器件的全链条创新🌟 新型铁电材料α-硒酸铋(Bi₂SeO₅)的诞生
团队依托自主研发的高迁移率二维半导体Bi₂O₂Se(硒氧化铋),通过精准可控的自氧化方法,首次实现了原子级平整界面的二维铁电氧化物Bi₂SeO₅的晶圆级均匀制备。这种材料在单晶胞厚度(约1纳米)下仍保持优异铁电性,彻底摆脱了传统铁电材料在厚度减薄后性能衰退的困境。其高达24的介电常数和超过600℃的高温结构稳定性,为器件的高效运行提供了坚实基础。
⚡ 高性能铁电晶体管的关键指标领先全球
基于Bi₂SeO₅构建的铁电场效应晶体管(FeFET)展现出卓越性能:
  • 超低工作电压:仅需0.8伏即可运行,远低于当前主流器件;
  • 超高耐久性:在20纳秒高速写入条件下,可承受超过1.5×10¹²次循环,可靠性远超云端AI计算标准;
  • 超长数据保持能力:超过10年;
  • 多级存储能力:支持32个稳定多级存储态,显著提升信息密度;
  • 极低能耗:操作能耗低至2.8 fJ bit⁻¹μm⁻²,能效领先现有技术1–2个数量级。
🧠 实现“存算一体”架构的关键跨越
传统冯·诺依曼架构因计算与存储分离,导致“功耗墙”和“存储墙”问题。彭海琳团队利用该器件构建出可动态重构的存内逻辑电路,在低于1伏的CMOS兼容电压下,同一器件可切换为逻辑运算或非易失存储模式,真正实现“一器两用”,为未来自适应智能芯片开辟了全新范式。
💥 解决芯片产业三大“拦路虎”
这项成果被评价为同时驯服了铁电芯片应用的三大难题:
  • 难题一:难以制备大面积、超薄且均匀的铁电薄膜 → 实现晶圆级均匀制备;
  • 难题二:材料过薄导致铁电性退化 → 单原子层厚度仍保持稳定铁电性;
  • 难题三:铁电层与半导体界面难以无缝集成 → 原位自氧化法实现原子级平整异质结构。
🌐 应用前景与行业影响
该技术不仅为人工智能硬件提供更高算力、更低功耗的芯片基础,也为三维集成、神经形态计算等前沿方向提供了可行路径。麻省理工学院教授苏拉·奇玛评价称:“这项研究的核心价值,在于同时解决了三大挑战,并造出了性能顶尖的器件。”
彭海琳表示,这一原创成果标志着我国在“超越摩尔”技术路线上实现了从材料发现到器件验证的重要跨越,未来有望推动电子设备更持久、更快速、更智能。
📊 关键技术参数对比(简明版)
参数
铋基铁电晶体管
传统铪基体系
工作电压
0.8 V(超低)
较高电压
耐久性
>1.5×10¹²次循环
较低循环次数
数据保持能力
>10年
较短时间
多级存储态
32个稳定态
较少存储态
能耗
2.8 fJ bit⁻¹μm⁻²
较高能耗
这一突破,不仅是中国科研实力的象征,更是全球芯片产业迈向新纪元的重要一步! 🎉



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