📌CP测试良率忽高忽低？先查探针卡再怪芯片

生产队队长

✦ 📌CP测试良率忽高忽低？先查探针卡再怪芯片 ✦

良率波动不一定是晶圆的锅，探针也会喊冤。

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▪️【为什么】现象场景
同一批晶圆，今天CP良率90%多，明天掉到80%多，晶圆来料明明是同一炉的。把探针卡拆下来在显微镜下一看，针尖磨损发亮，接触电阻上去了，弱信号引脚测出来的参数全部虚高，好芯片被误判成了坏芯片。
▪️【怎么办】实战对策
▸ 建立探针卡寿命台账，按触针次数强制更换，不要等针尖打滑才换；
▸ 每次换卡后使用标准片进行验证，对比接触电阻和参数基准，合格后再放行；
▸ 定期检查测试机的GPIB与继电器，通过漂移会连累整批数据，软件版本变更必须留档。
▪️【划重点】测试的底线：先证明量具可靠，再判定产品好坏。

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