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FP激光器加工生产全流程技术详解

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发表于 2025-8-7 11:16:29 | 显示全部楼层 |阅读模式
FP激光器加工生产全流程技术详解
一、核心材料制备阶段
  • 半导体衬底处理
    • 采用砷化镓(GaAs)或磷化铟(InP)晶圆作为基底,通过分子束外延(MBE)或金属有机化学气相沉积(MOCVD)生长量子阱结构。
    • 晶圆切割精度需控制在±0.1mm以内,表面粗糙度Ra<0.5nm以降低光散射损耗。
  • 反射镜镀膜工艺
    • 腔镜采用分布式布拉格反射镜(DBR),通过电子束蒸发交替沉积SiO₂/Ta₂O₅薄膜,膜厚误差≤±2nm。
    • 前反射镜透过率通常设计为1%-5%,后反射镜反射率>99.5%。
二、芯片制造关键流程
  • 光刻与蚀刻
    • 使用步进式光刻机完成脊型波导图案转移,干法刻蚀形成2-5μm宽的条形结构。
    • 侧壁垂直度偏差需<1°,避免模式泄漏。
  • 电极制备
    • P型面采用Ti/Pt/Au多层金属蒸发,N型面沉积Ge/Au/Ni/Au合金,接触电阻<10⁻⁴Ω·cm²。
    • 电极退火温度控制在400-450℃区间,时间30-60秒。
三、封装测试环节
  • TO-CAN封装
    • 芯片通过金锡共晶焊固定在热沉上,焊接空洞率<5%。
    • 充氮气密封前进行48小时老化测试,漏气率<5×10⁻⁸atm·cc/sec。
  • 性能验证体系
    • L-I-V测试:阈值电流偏差≤±5%,斜率效率>0.8W/A。
    • 光谱分析:中心波长偏移<±2nm,边模抑制比>30dB。
四、工艺优化方向
  • 热管理升级
    • 采用金刚石热扩散片,使热阻降至8K/W以下。
  • 自动化装配
    • 引入六轴机器人实现光纤耦合,定位精度±0.5μm。

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