LED外延片的光致发光(PL)电致发光(EL)测试

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LED外延片的PL和EL测试是半导体制造中的核心检测手段，能帮你快速掌握材料质量和工艺状态。简单来说：

PL测试（光激发）

• ‌原理‌：用激光照射样品，通过荧光信号分析结晶质量、缺陷密度和载流子寿命。
• ‌应用‌：筛选高结晶材料，评估薄膜均匀性。
  

EL测试（电激发）

• ‌原理‌：通电后捕捉红外发光信号，定位隐裂、虚焊等缺陷。
• ‌应用‌：验证工艺稳定性，优化电极接触。
  

技术优势

• ‌无损检测‌：不破坏样品，适合产线抽检。
• ‌高精度‌：可检测微米级缺陷。
• ‌快速高效‌：单片检测仅需秒级。
  

设备示例

• ‌PL测试仪‌：配备650nm激光光源，支持硅片/电池的PL/EL检测。
• ‌PL光致发光测试系统‌：兼容多尺寸样品，检测时间IR为20秒、PL为10-30秒。
  

这两种技术协同使用，能显著提升LED制造良率和性能。